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简单介绍：
日本sentec三维立体几何测量系统ODC2500 ODC2600 odc1200,遮光の原理によってターゲットの形状測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル・インターフェースによって出力されます
详情介绍：
日本sentec三维立体几何测量系统ODC2500 ODC2600
ジオメトリック寸法測定システム | ||
ODC2500 | ||
 遮光の原理によってターゲットの形状測定やエッジの位置測定をします。様々な測定プログラムの選択で得られたデータは、アナログ及びデジタル・インターフェースによって出力されます。 | ||
ODC2600 | ||
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optoCONTROLは寸法測定のため高精度CCDを内蔵した測定装置です。高速応答性、**した精度とすばらしい分解能は、生産ラインにおいて移動する製品の検査において新しい水準と価値を明確にします。optoCONTROL測定システムはターゲットの寸法を遮光によるエッジの位置で測ることが出来ます。様々なプログラムを選択可能で、デジタルインターフェースとアナログ出力を使用することが出来ます。 ODC1200 | ||
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高速でワークの直径、エッジ、すき間等を測定可能